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        揭示先進封裝的未來:失效分析的挑戰和發展

        先進封裝技術給半導體行業帶來了變革,市場對更小、更快、更低能耗、更大算力的電子設備的需求驅動了近年來先進封裝的快速發展,它追求結構的進一步微型化、更高集成度、更多功能性,以及更好的散熱控制。然而,這些先進性也給失效分析帶來了新的挑戰。失效分析在識別和理解先進封裝失效的根本原因中發揮了重要作用,這使廠商可采取適當的改進措施以改善生產工藝、設計優化、材料選擇,對提升良率、可靠性和產品性能非常關鍵。失效分析同時也可優化測試和生產流程,減少返工和報廢,對成本減低做出重要貢獻。▲當前先...

        • 2024

          8-29

          蔡司EVO掃描電子顯微鏡在工業領域應用廣泛,以下為您詳細介紹:材料分析:●金屬材料:對鋼鐵、有色金屬等進行微觀形貌觀察,如分析金屬的晶粒尺寸、形狀、取向,研究金屬材料的組織結構與性能關系;還可用于金屬材料的斷口分析,判斷斷裂方式(如韌性斷裂、脆性斷裂)和原因,為材料的改進和質量控制提供依據。例如,在汽車制造中,用于分析發動機零部件的金屬材料微觀結構,優化材料性能以提高發動機的可靠性和耐久性。●陶瓷材料:能清晰觀察陶瓷材料的顆粒大小、分布、形狀,以及陶瓷材料的孔隙結構、晶界等微...

        • 2024

          8-28

          蔡司X射線顯微鏡Xradia515Versa憑借其突破性技術和高分辨率探測器,將3DX射線顯微鏡(XRM)的性能提升至新的高度,為各種尺寸的樣品提供亞微米級成像解決方案。保持先進的大樣品高分辨率技術優勢的同時,該系統可實現高達500nm空間分辨率。該產品通過使用更高分辨率的光學元件,實現分辨率的改善和突破。與此同時,該產品還加入了更多的智能的元素,并且具有更廣闊的拓展能力。兼容ART3.0高級重構工具箱,利用AI技術提高成像效率或改善成像質量。此外,Xradia515Vers...

        • 2024

          8-28

          以下是運用蔡司X射線顯微鏡進行電子器件高分辨無損三維檢測的一般步驟和要點:一、樣品準備:1、確保電子器件樣品干凈、干燥,無油污、灰塵等雜質,以免影響成像質量。2、如果樣品尺寸較大,需檢查是否符合蔡司X射線顯微鏡的樣品尺寸要求,對于超出范圍的樣品可能需要進行適當切割或處理,但要注意避免對樣品造成額外損傷或改變其內部結構。3、對于一些特殊的電子器件,如含有易揮發或對X射線敏感的部件,需提前采取相應的保護措施或進行特殊處理。二、選擇合適的成像參數:1、X射線能量:根據電子器件的材料...

        • 2024

          8-26

          蔡司顯微鏡在電子行業的多個領域具有顯著的應用優勢,以下為詳細介紹:●半導體制造:△晶圓檢測:在半導體晶圓的生產過程中,蔡司顯微鏡可用于檢測晶圓表面的缺陷、顆粒污染、劃痕等問題。例如,通過高分辨率的成像,可以清晰地觀察到晶圓表面微小的瑕疵,幫助提升晶圓的質量和成品率。半導體企業英特爾(Intel)在芯片制造過程中,會使用蔡司顯微鏡對晶圓進行檢測。比如在光刻環節后,利用蔡司顯微鏡檢查晶圓上的圖案是否符合設計要求,包括線條的寬度、間距以及圖案的完整性等,確保芯片的功能和性能。△芯片...

        • 2024

          8-2

          蔡司X射線顯微鏡作為高精度三維成像技術的代表,在科學研究和技術應用中發揮著重要作用。其原理與應用可以概括如下:原理蔡司X射線顯微鏡利用X射線的強穿透性和短波長特性,結合的成像技術,實現對樣品內部結構的高精度三維成像。其關鍵部件包括X射線源、探測器以及成像和放大元件。X射線源發射出高強度的X射線,穿透樣品后,不同部位對X射線的吸收率不同,從而在探測器上形成不同的灰度圖像。通過多角度成像和計算機重構技術,可以還原出樣品內部的三維結構。此外,蔡司X射線顯微鏡還采用光學+幾何兩級放大...

        • 2024

          7-23

          LSM900共聚焦顯微鏡是一種熒光顯微鏡技術,它通過激光掃描的方式,逐層掃描樣品并收集熒光信號,生成高分辨率的三維圖像。這種顯微鏡在生物學、醫學、材料科學等領域具有廣泛的應用。一、操作原理核心操作原理包括以下幾個方面:激光掃描:使用激光作為光源,通過掃描裝置對樣品進行逐層掃描。激光束通過物鏡聚焦在樣品上,激發出樣品的熒光信號。熒光檢測:激發出的熒光信號被探測器接收,經過放大和處理后,生成與樣品結構相對應的圖像。三維成像:通過逐層掃描和熒光檢測,可以重建樣品的三維結構,從而實現...

        • 2024

          7-23

          一、高襯度的低電壓VC(voltagecontrast)成像蔡司Gemini電子光學技術擁有優異的低電壓成像能力,能獲得準確的電壓襯度(PVC)圖像,用于快速的失效定位。▲SRAM區域的電壓襯度圖像二、有利于電性表征的不漏磁光學系統蔡司Gemini鏡筒可實現不漏磁的超低電壓成像,是納米探針(nanoprobing)測試的理想平臺。具備3nm制程的測試能力,且能實現低至100eV的SEM實時成像,極大地降低電子束輻照損傷。▲80V加速電壓下成像,SRAM區域和八根納米探針三、創...

        • 2024

          7-3

          工作原理:三維掃描儀主要基于光學、激光和結構光等技術原理,實現對物體表面的三維數據獲取。激光掃描儀通過發射激光束并接收反射光,測量光的飛行時間或角度變化來確定物體表面的三維坐標。結構光技術則通過投射特定的光模式(如條紋、網格)到物體表面,利用相機捕捉光模式變形后的圖像,計算得到物體表面的三維信息。這些技術結合計算機視覺和圖像處理技術,能夠高效、精確地獲取物體的三維數據。技術革新:近年來,三維掃描儀在技術上取得了顯著革新。一方面,掃描精度和速度不斷提升,部分設備已能達到微米級精...

        • 2024

          6-19

          作為一種高效、精確的檢測工具,自動化數碼顯微鏡為各行各業的質量控制提供了有力的支持。一、自動化數碼顯微鏡結合了光學顯微鏡和數字成像技術,能夠實現對樣品的高分辨率、高對比度的觀察。通過自動化控制,可以實現樣品的自動對焦、自動掃描和自動識別等功能,大大提高了檢測效率和準確性。二、在質量控制中的應用微觀結構分析:可以清晰地觀察到材料、零部件等樣品的微觀結構,有助于發現潛在的質量問題,如裂紋、氣孔、夾雜等。尺寸測量:通過測量功能,可以快速、準確地測量樣品的尺寸,如長度、寬度、高度等,...

        • 2024

          6-5

          原理:蔡司三維掃描儀利用激光或光斑掃描技術,通過光源發出激光或光斑照射在物體表面,并接收反射回來的光信號。這些光信號經過光電傳感器或像素陣列轉化為電信號,再通過計算光信號的時間、位置和強度等參數,得出物體表面的三維坐標。最終,經過數據處理和重建技術,形成高精度的三維模型。優勢:1、非接觸測量:避免了對被測物體的接觸和可能的損傷。2、速度快、精度高:采用先進的光學機械精密加工技術和激光投射結構光,確保高效且準確的數據采集。3、應用廣泛:能與多種軟件接口,為CAD、CAM等技術應...

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