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        新品上市 | 全新蔡司VersaXRM系列,智能帶領快速掃描新時代

        更新時間:2024-10-29      點擊次數:917

        新品上市 | 全新蔡司VersaXRM系列,智能帶領快速掃描新時代

        蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 730

        新品上市 | 全新蔡司VersaXRM系列,智能帶領快速掃描新時代

        蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615


        兩款新產品既可以實現高分辨高襯度成像,同時支持快速掃描擴展實現1分鐘內的快速三維掃描成像,并標配 ZEN navx系統控制軟件和基于AI的高級重構功能、智能簡便、高質高效。

        全新蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 730和VersaXRM 615將帶領科研和工業檢測用戶進入快速掃描時代突破研究新的高度。


        無懼高壓的40X-Prime 物鏡探測器

        √空間分辨率高至 450nm,

        √30kV-160kV 全電壓下可實現≤500nm 的空間分辨率

        大工作距離高分辨(RaaD)表現:

         700nm@50mm

         750nm@100mm

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        VersaXRM 730 系統可選配 40X-Prime 物鏡探測器

        ↓成像案例

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        ●智能易用的系統控制軟件 ZEN navx

        蔡司X射線顯微鏡 VersaXRM 系列采用以人為本設計的全新控制系統,讓操作更簡單,三維成像更高效。

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        √以人為本的界面與流程設計,復雜操作即刻化繁為簡,

        √Smartshield 智能防撞系統,為實驗探索保駕護航,

        √全自動的參數推薦,各不同類型樣品均可獲得高質量圖像,

        √集成化的軟件功能,輕松實現數據采集及自動化三維重構。

        ●基于人工智能AI的高級重構工具箱

        VersaXRM 全系列標配高性能數據處理工作站及2年的DeepRecon Pro高級重構工具 License。人工智能的加持,實現成像質量和效率的進一步提升。

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        ↓成像案例

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        全新FAST Mode三維數據快速采集模式

        基于平板擴展(FPX)和ZEN navx的新數據采集模式。

        1分鐘內完成樣品三維重構所需投影數據的采集,成像效率大大提高,

        √從大視野到高分辨,實現快速定位及放大成像。

        新品上市 | 全新蔡司VersaXRM系列,智能帶領快速掃描新時代

        新老用戶均可實現升級與拓展

        值得一提的是,秉承蔡司x射線顯微鏡的一貫設計理念,兩款新型號的x射線顯微鏡繼續保持了可升級可拓展的特性,從而最大限度保護新老用戶的投資,確保您的設備不會落伍,以適應未來技術的不斷創新。

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        蔡司X射線顯微成像系統升級路線

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